English| APHA-kód | P2660 |
| Szerzők | Végh J. |
| Cím | An evaluation procedure for in-depth concentration profiling with PIXE. |
| Megjelenés helye | Atomki Közlemények 20 (1978) 229 |
| Impakt faktor | 0.000 |
| Megnézem | Hivatkozások (13) |
| APHA-kód | P2660 |
| Szerzők | Végh J. |
| Cím | An evaluation procedure for in-depth concentration profiling with PIXE. |
| Megjelenés helye | Atomki Közlemények 20 (1978) 229 |
| Impakt faktor | 0.000 |
| Megnézem | Hivatkozások (13) |